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DAEDUCK

Electric & Electronic equipment031-8040-8000

Probe CardModify Date : 2020-07-15 09:38:57

Application
Wafer probe, Semiconductor Tester


Key Tech.
-Over 80+ Layer
-Fitness control
-High Aspect Ratio (37:1)

Specification

Structure:Over +80L
Thick.:84L / 6.2mm
Line / Space (㎛):Min 60 / 76 ㎛


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